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仪众国际首页 > 产品 > 通用分析仪器 > X射线(衍射)仪/能谱仪 > RoHS ValidatoⅢ荧光分析仪

产品名称:RoHS ValidatoⅢ荧光分析仪

公司名称:深圳智泰精密仪器有限公司福州办事处

厂商性质:暂无

所 在 地:[福建]

产品价格:面议

更新时间:2007-10-10

浏览次数:915

15880096681(联系我时,请说明是在仪众国际器网上看到的,谢谢)

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产品详细介绍

 

第三代3DFAMILY X射线荧光分析仪,采用世界上最先进的硅SIPIN探测器(分辨率为150ev),实现了无液态氮检出器下高灵敏度的检测功能。配备自动切换的滤光片及透射式X射线球管,最大程度地缩小了X射线源与被测物体的间距,从而在较低的电压下达到同样的激发效率,同时减少了漫射光的干扰,大大地提高了灵敏度和读数的准确性,重复性。


高灵敏度---自动切换4种滤光片
在测定微量成分时,由于X射线管的连续X射线所产生的散射线会产生较大的背景,致使目标峰的观测比较困难。为了降低或消除背景和特征谱线等的散射X射线对高灵敏度分析的影响,此荧光分析仪配置了4种可自动切换的滤光片,有效地降低了背景和散射X射线的干扰,调整出最具感度的辐射,进一步提高了S/N的比值,从而可以进行更高灵敏度的微量分析。
◎自动定性分析
A, 自动过滤背景
X射线管的连续X射线所产生的散射线会产生较大的背景,软件可自动过滤背景对分析结果的干扰,
从而能确保对任何塑料样品的进行快速准确的分析。(详见后页背景效果比较图)
B, 自动剥离重叠峰
当某些元素的电子由高等级向低等级越迁时释放的能量相近,会使此时谱图的波峰重叠在一起,由
此产生了重叠峰。SCIENSCOPE自行开发的软件自动剥离重叠峰,确保了元素分析的正确性。
C, 自动补偿逃逸峰
逃逸峰:由于采用的是Si针半导体探测器,因此当X射线荧光在通过探测器的时候,如果某种元素
的含量较高(能量也会相应的较高),其被Si吸收的概率也就越大。此时,光谱图中在该元素的能量
值减去Si能量值的地方回产生一个峰,此峰即为逃逸峰。
D, 自动追踪谱图漂移
在电压不稳的情况下,可对扫描谱图的漂移进行自动追踪补偿。
◎ 定量分析
A,FP基础参数法
B,标准法
C,1点校正

主要技术指标:
分析原理
能量色散X射线荧光分析法

分析元素
Si~U(Cd/Pb/Cr/Hg/Br高精度型)

Na~U(任选:φ1.2mm/φ0.1mm切换方式型)

检出下限
Cd/Pb/Hg/Br/Cr≤5ppm

样品形状
最大460×380mm(高150mm)

样品
塑料/金属/纸/涂料/油墨/液体

样品室气氛
大气

X射线管
靶材
Rh

管电压
最大50KV

管电流
最大1mA

X射线照射径
 
1/3/5mm

防护
<0.1mR/Hr (辐射低于电脑屏幕)

检测器
硅SIPIN探测器

光学图像观察
 
倍率15倍
软件
定性分析:自动定性(自动去背景/自动剥离重叠峰/自动补偿逃逸峰/自动补偿谱图漂移)

照射径:1/3/5mm

定量分析:基础参数法/标准法/1点校正

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