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仪众国际首页 > 产品 > 通用分析仪器 > X射线(衍射)仪/能谱仪 > X射线波谱仪(WDS)

产品名称:X射线波谱仪(WDS)

公司名称:牛津仪器有限公司

厂商性质:暂无

所 在 地:暂无

产品价格:面议

更新时间:2008-04-09

浏览次数:852

(联系我时,请说明是在仪众国际器网上看到的,谢谢)

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产品详细介绍

INCA Wave X射线波谱仪有高分辨率,高灵敏度,高精度,高准确度和操作简便的特点,是显微分析大家族中不可或缺的技术手段。采用高精度的弯曲晶体分光谱仪系统,由4块或6块晶体覆盖从B到U的全部元素分析,其探测极限可达几个PPM。

应用:
波长色散显微分析仪(WDS) 能提供高质量的关于扫描电镜(SEM)中样品化学成分的信息。其谱图分辨率和检测极限显著优于能量色散显微分析仪(EDS). WDS尤其适合特别需要分辨相邻X射线谱峰或检测痕量元素的场合。它同时提供了扫描电镜(SEM)条件下最精确的定量分析结果。

INCA Wave X射线波谱仪有高分辨率,高灵敏度,高精度,高准确度和操作简便的特点,是显微分析大家族中不可或缺的技术手段。采用高精度的弯曲晶体分光谱仪系统,由4块或6块晶体覆盖从B到U的全部元素分析,其探测极限可达几个PPM。

应用:
波长色散显微分析仪(WDS) 能提供高质量的关于扫描电镜(SEM)中样品化学成分的信息。其谱图分辨率和检测极限显著优于能量色散显微分析仪(EDS). WDS尤其适合特别需要分辨相邻X射线谱峰或检测痕量元素的场合。它同时提供了扫描电镜(SEM)条件下最精确的定量分析结果。

INCA Wave X射线波谱仪有高分辨率,高灵敏度,高精度,高准确度和操作简便的特点,是显微分析大家族中不可或缺的技术手段。采用高精度的弯曲晶体分光谱仪系统,由4块或6块晶体覆盖从B到U的全部元素分析,其探测极限可达几个PPM。

应用:
波长色散显微分析仪(WDS) 能提供高质量的关于扫描电镜(SEM)中样品化学成分的信息。其谱图分辨率和检测极限显著优于能量色散显微分析仪(EDS). WDS尤其适合特别需要分辨相邻X射线谱峰或检测痕量元素的场合。它同时提供了扫描电镜(SEM)条件下最精确的定量分析结果。

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